30

Új, nagy teljesítményű analitikai elektronmikroszkóp 2018 decemberében JEOL JEM-ACE200F modellnéven új TEM-et fejlesztett ki.

Több mintát befogadó automatikus transzfer rendszerével, ultra nagy térszögű kémiai elemzésével (EDS) és célzottan kialakított, nagyfelbontású lencséjével bámulatosan gyors hibanalítikai eszközt ad a félvezető kutatók kezébe.