Főoldal
Termékek »
Elektronoptikai berendezések
»
Pásztázó elektronmikroszkóp
»
Transzmissziós elektronmikroszkóp
»
Fókuszált ionsugaras berendezés (FIB és kétsugaras SEM-FIB)
»
Felületanalitikai berendezések (Auger, EPMA szondák)
»
Integrált EDS berendezések TEM és SEM részére
Mintaelőkészítés
»
Plazma tisztító berendezés
»
Ionsugaras szeletelő
»
Ionsugaras polírozó
»
Szénpárologtató
Félvezető-ipari berendezések
»
Elektronsugaras litográfia
»
Wafer ellenőrzés SEM rendszerrel
»
Precíziós folyamatellenőrzés
Analitikai spektroszkópia
»
Tömegspektrométer
»
Mágneses magrezonancia spektrométer
»
Elektronspin-rezonancia spektrométer
Műszerkörnyezet szabályozása
»
Telepítési környezet szabályozása
»
Mágneses térerő kompenzáció
»
Rezgés csillapítás
Orvosi eszközök
Applications
Aktualitások
Login
Aktualitások
INFOS
ÉVÉNEMENTS
PUBLICATIONS
Current Articles
|
Archives
|
Search
03
A méhek és a környezet
26
Legújabb CRYO ARM
03
JXA-8530F plus : 3rd generation of FEG Micrprobe
02
JIB-4700F : new multiple beam (FIB+SEM)
13
hepatitis C
13
Hepatitis C
17
Vissza az iskolába!
04
ÉVES ÉVFORDULÓ JEOL SEM
15
A Zika vírust társították a kisfejűség-mikrocefália kialakulásához
03
Bemutatjuk a JEM-200F sokoldalú transzmissziós elektronmikroszkópot
Page 1 of 2
First
Previous
[1]
2
Next
Last