JEOL
fr-FRit-ITpl-PLcs-CZhu-HU

  • Főoldal
  • Termékek »
    • Elektronoptikai berendezések

    • » Pásztázó elektronmikroszkóp
    • » Transzmissziós elektronmikroszkóp
    • » Fókuszált ionsugaras berendezés (FIB és kétsugaras SEM-FIB)
    • » Felületanalitikai berendezések (Auger, EPMA szondák)
    • » Integrált EDS berendezések TEM és SEM részére
    • Mintaelőkészítés

    • » Plazma tisztító
    • » Ionsugaras szeletelő (TEM)
    • » Ionsugaras vékonyító (SEM)
    • » Fémbevonatok/ Széngőzölő
    • Félvezető-ipari berendezések

    • » Elektronsugaras litográfia
    • » Wafer ellenőrzés SEM rendszerrel
    • » Precíziós folyamatellenőrzés
    • Analitikai spektroszkópia

    • » Tömegspektrométer
    • » Mágneses magrezonancia spektrométer
    • » Elektronspin-rezonancia spektrométer
    • Műszerkörnyezet szabályozása

    • » Telepítési környezet szabályozása
    • » Mágneses térerő kompenzáció
    • » Rezgés csillapítás
    • Spektrometria

    • » SXES Lágy-röngen emisszió spektrométer
    • » Röntgen-fluoreszens detektor (JSX 1000S)
  • Applications
  • Aktualitások
  • Kapcsolatok
Login
Aktualitások
Infos Events Publications
25 Latest Articles Current Articles | Archives | Search
11

A new microscopy centre will help both Czech and foreign researchers in their fight against diseases

06

Release of New Electron Probe Microanalyzers JXA-iHP200F and JXA-iSP100. Evolution of Integrated EPMA

27

Mars project

15

CRYOARM 1.55Å felbontás!

30

Új 200kV-os FEG TEM automatikával – JEM ACE200F

23

Electron microscopy laboratory inauguration in Prague

17

Job opportunity

04

New software for scanning electron microscope

04

NMR spectrometer installations at IOCB in Prague

14

Látogatás az első méhkasnál. Az első mézcseppek

Page 1 of 4First   Previous   [1]  2  3  4  Next   Last   

Elektronoptikai berendezések

  • Pásztázó elektronmikroszkóp
  • Transzmissziós elektronmikroszkóp
  • FIB és a FIB-SEM, kettős oszlop
  • Felület analízis (Auger, EPMA)
  • Integrált rendszer EDS, SEM illetve TEM egyaránt JEOL-tól

Mintaelőkészítés

  • Plazma tisztító
  • Ionsugaras szeletelő (TEM)
  • Ionsugaras vékonyító (SEM)
  • Fémbevonatok / Széngőzölő

Félvezető-kutatási eszközök

  • Elektronsugaras litográfia
  • Wafer Inspection SEM
  • Precíziós ellenőrzési folyamat

Analitikai spektroszkópia

  • Tömegspektrométerek
  • Mágneses magrezonancia
  • Elektron spin rezonancia

Intelligens telepítési környezet

  • Hőmérséklet szabályozás
  • Mágneses mező kompenzátor
  • Rezgés-mentesítő eszközök

Spektrometria

  • SXES Lágy-röngen emisszió spektrométer
  • Röntgen-fluoreszens detektor (JSX 1000S)
Personal Data | Terms Of Use | Privacy Statement | Preferences related to cookies
Copyright 2021 JEOL