Főoldal
Termékek »
Elektronoptikai berendezések
»
Pásztázó elektronmikroszkóp
»
Transzmissziós elektronmikroszkóp
»
Fókuszált ionsugaras berendezés (FIB és kétsugaras SEM-FIB)
»
Felületanalitikai berendezések (Auger, EPMA szondák)
»
Integrált EDS berendezések TEM és SEM részére
Mintaelőkészítés
»
Plazma tisztító berendezés
»
Ionsugaras szeletelő
»
Ionsugaras polírozó
»
Szénpárologtató
Félvezető-ipari berendezések
»
Elektronsugaras litográfia
»
Wafer ellenőrzés SEM rendszerrel
»
Precíziós folyamatellenőrzés
Analitikai spektroszkópia
»
Tömegspektrométer
»
Mágneses magrezonancia spektrométer
»
Elektronspin-rezonancia spektrométer
Műszerkörnyezet szabályozása
»
Telepítési környezet szabályozása
»
Mágneses térerő kompenzáció
»
Rezgés csillapítás
Orvosi eszközök
Applications
Aktualitások
Kapcsolatok
Login
Aktualitások
Infos
Events
Publications
Current Articles
|
Archives
|
Search
06
Release of New Electron Probe Microanalyzers JXA-iHP200F and JXA-iSP100. Evolution of Integrated EPMA
27
Mars project
15
CRYOARM 1.55Å felbontás!
30
Új 200kV-os FEG TEM automatikával – JEM ACE200F
23
Electron microscopy laboratory inauguration in Prague
17
Job opportunity
04
New software for scanning electron microscope
04
NMR spectrometer installations at IOCB in Prague
14
Látogatás az első méhkasnál. Az első mézcseppek
30
Méhkas 2/ következő fejezet. A méhkirálynő érkezésének előkészítése
Page 1 of 4
First
Previous
[1]
2
3
4
Next
Last